Silicon vertex detector for the KEK Super B factory

T. Tsuboyama, H. Aihara, T. Arakawa, Y. Asano, T. Aso, A. Bakich, M. Barbero, T. Browder, M. C. Chang, Y. Chao, K. F. Chen, S. Chidzik, A. Chouvikov, Y. K. Choi, A. Das, J. Dalseno, S. Fratina, M. Friedl, Y. Fujiyama, J. HabaK. Hara, T. Hara, B. Harrop, K. Hayashi, M. Hazumi, D. Heffernan, T. Higuchi, T. Hirakawa, C. Irmler, H. Ishino, N. K. Joshi, S. Kajiwara, H. Kakuno, T. Kameshima, T. Kawasaki, A. Kibayashi, Y. J. Kim, S. Koike, S. Korpar, P. Križan, H. Kurashiro, A. Kusaka, D. Marlow, H. Miyake, G. R. Moloney, Y. Nakahama, Z. Natkaniec, S. Okuno, S. Ono, W. Ostrowicz, H. Ozaki, L. Peak, M. Pernicka, M. Rosen, M. Rozanska, N. Sato, S. Schmid, J. Schümann, S. Stanič, H. Steininger, K. Sumisawa, O. Tajima, T. Takahashi, N. Tamura, M. Tanaka, N. Tani, G. N. Taylor, K. Trabelsi, K. Uchida, K. Ueno, Y. Ushiroda, G. Varner, K. Varvell, Y. S. Velikzhanin, C. C. Wang, M. Z. Wang, M. Watanabe, Y. Watanabe, H. Yamamoto, Y. Yamashita, T. Ziegler

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Silicon vertex detector for the KEK Super B factory'. Together they form a unique fingerprint.

Physics & Astronomy

Engineering & Materials Science