Performance of the Aleph Upgraded Silicon Vertex Detector

D. Creanza, M. De Palma, M. Girone, G. Maggi, G. Selvaggi, L. Silvestris, G. Raso, P. Tempesta, M. Burns, P. Coyle, C. Engster, M. Frank, L. Moneta, M. Wachnik, A. Wagner, J. Zaslavsky, E. Focardi, G. Sguazzoni, G. Parrini, E. ScarliniA. Halley, V. O'Shea, C. Raine, G. Barber, W. Cameron, P. Dornan, D. Gentry, N. Konstantinidis, A. Moutoussi, J. Nash, D. Price, A. Stacey, L. W. Toudup, M. I. Williams, M. Billault, A. Bonissent, G. Bujosa, D. Calvet, J. Carr, C. Diaconu, P. E. Blanc, J. J. Destelle, P. Karst, P. Payre, D. Rousseau, M. Thulasidas, H. Dietl, H. G. Moser, R. Settles, H. Seywerd, G. Waltermann, S. Bettarini, F. Bosi, R. Dell'Orso, A. Messineo, A. Profeti, G. Rizzo, P. G. Verdini, J. Walsh, J. P. Bizzell, P. D. Maley, J. C. Thompson, A. E. Wright, S. Black, H. Y. Kim, L. Bosisio, J. Putz, J. Rothberg, S. Wasserbaech, P. ElmerShow 50 othersShow less