Optical efficiency of feedhorn-coupled TES polarimeters for next-generation CMB instruments

J. W. Henning, J. W. Appel, J. E. Austermann, J. A. Beall, D. Becker, D. A. Bennett, L. E. Bleem, B. A. Benson, J. Britton, J. E. Carlstrom, C. L. Chang, H. M. Cho, A. T. Crites, T. Essinger-Hileman, W. Everett, E. M. George, N. W. Halverson, G. C. Hilton, W. L. Holzapfel, J. HubmayrK. D. Irwin, D. Li, J. Mcmahon, J. Mehl, S. S. Meyer, S. Moseley, J. P. Nibarger, M. D. Niemack, L. P. Parker, E. Shirokoff, S. M. Simon, S. T. Staggs, J. N. Ullom, K. U-Yen, C. Visnjic, E. Wollack, K. W. Yoon, E. Y. Young, Y. ZhaoShow 19 othersShow less