Measurement of the Electroweak Penguin Process [Formula presented]

J. Kaneko, K. Abe, K. Abe, T. Abe, I. Adachi, Byoung Sup Ahn, H. Aihara, M. Akatsu, Y. Asano, T. Aso, V. Aulchenko, T. Aushev, A. M. Bakich, Y. Ban, E. Banas, W. Bartel, A. Bay, P. K. Behera, A. Bondar, A. BozekM. Bračko, J. Brodzicka, T. E. Browder, B. C.K. Casey, P. Chang, Y. Chao, K. F. Chen, B. G. Cheon, R. Chistov, Y. Choi, Y. K. Choi, M. Danilov, L. Y. Dong, S. Eidelman, V. Eiges, Y. Enari, C. W. Everton, F. Fang, H. Fujii, C. Fukunaga, N. Gabyshev, A. Garmash, T. Gershon, R. Guo, J. Haba, F. Handa, T. Hara, Y. Harada, N. C. Hastings, H. Hayashii, M. Hazumi, E. M. Heenan, I. Higuchi, T. Higuchi, L. Hinz, T. Hojo, Y. Hoshi, W. S. Hou, H. C. Huang, T. Igaki, Y. Igarashi, T. Iijima, K. Inami, A. Ishikawa, H. Ishino, R. Itoh, H. Iwasaki, Y. Iwasaki, H. K. Jang, J. H. Kang, J. S. Kang, N. Katayama, H. Kawai, Y. Kawakami, N. Kawamura, T. Kawasaki, H. Kichimi, D. W. Kim, Heejong Kim, H. J. Kim, H. O. Kim, Hyunwoo Kim, S. K. Kim, K. Kinoshita, S. Kobayashi, S. Korpar, P. Križan, P. Krokovny, R. Kulasiri, S. Kumar, Y. J. Kwon, J. S. Lange, G. Leder, S. H. Lee, J. Li, A. Limosani, R. S. Lu, J. MacNaughton, G. Majumder, F. Mandl, D. Marlow, S. Matsumoto, T. Matsumoto, W. Mitaroff, K. Miyabayashi, Y. Miyabayashi, H. Miyake, G. R. Moloney, T. Mori, T. Nagamine, Y. Nagasaka, T. Nakadaira, E. Nakano, M. Nakao, J. W. Nam, K. Neichi, S. Nishida, O. Nitoh, S. Noguchi, T. Nozaki, S. Ogawa, T. Ohshima, T. Okabe, S. Okuno, S. L. Olsen, Y. Onuki, W. Ostrowicz, H. Ozaki, P. Pakhlov, H. Palka, C. W. Park, H. Park, K. S. Park, J. P. Perroud, M. Peters, L. E. Piilonen, N. Root, K. Rybicki, H. Sagawa, Y. Sakai, H. Sakamoto, M. Satapathy, A. Satpathy, O. Schneider, S. Schrenk, C. Schwanda, S. Semenov, K. Senyo, R. Seuster, H. Shibuya, B. Shwartz, V. Sidorov, J. B. Singh, N. Soni, S. Stanič, K. Sumisawa, T. Sumiyoshi, K. Suzuki, S. Suzuki, S. Y. Suzuki, S. K. Swain, H. Tajima, T. Takahashi, F. Takasaki, K. Tamai, N. Tamura, J. Tanaka, M. Tanaka, G. N. Taylor, Y. Teramoto, S. Tokuda, M. Tomoto, T. Tomura, K. Trabelsi, W. Trischuk, T. Tsuboyama, T. Tsukamoto, S. Uehara, K. Ueno, S. Uno, Y. Ushiroda, G. Varner, K. E. Varvell, C. C. Wang, C. H. Wang, J. G. Wang, M. Z. Wang, Y. Watanabe, E. Won, B. D. Yabsley, Y. Yamada, A. Yamaguchi, Y. Yamashita, M. Yamauchi, H. Yanai, J. Yashima, M. Yokoyama, Y. Yuan, Y. Yusa, C. C. Zhang, J. Zhang, Z. P. Zhang, Y. Zheng, V. Zhilich, D. ŽontarShow 185 othersShow less