Measurement of the e+e-→π+π-J/ψ cross section via initial-state radiation at Belle

C. Z. Yuan
, C. P. Shen
, P. Wang
, S. McOnie
, I. Adachi
, H. Aihara
, V. Aulchenko
, T. Aushev
, S. Bahinipati
, V. Balagura
, E. Barberio
, I. Bedny
, U. Bitenc
, A. Bondar
, A. Bozek
, M. Bračko
, J. Brodzicka
, T. E. Browder
, M. C. Chang
, P. Chang

A. Chen, K. F. Chen, W. T. Chen, B. G. Cheon, R. Chistov, I. S. Cho, Y. Choi, J. Dalseno, M. Danilov, M. Dash, S. Eidelman, S. Fratina, N. Gabyshev, B. Golob, H. Ha, J. Haba, K. Hayasaka, H. Hayashii, M. Hazumi, D. Heffernan, T. Hokuue, Y. Hoshi, W. S. Hou, Y. B. Hsiung, H. J. Hyun, T. Iijima, K. Ikado, K. Inami, A. Ishikawa, R. Itoh, Y. Iwasaki, D. H. Kah, H. Kaji, J. H. Kang, N. Katayama, H. Kawai, T. Kawasaki, H. Kichimi, Y. J. Kim, K. Kinoshita, S. Korpar, P. Križan, P. Krokovny, R. Kumar, C. C. Kuo, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, S. E. Lee, T. Lesiak, S. W. Lin, Y. Liu, D. Liventsev, F. Mandl, D. Marlow, A. Matyja, T. Medvedeva, W. Mitaroff, K. Miyabayashi, H. Miyake, H. Miyata, Y. Miyazaki, R. Mizuk, T. Mori, Y. Nagasaka, M. Nakao, Z. Natkaniec, S. Nishida, O. Nitoh, S. Ogawa, T. Ohshima, S. Okuno, S. L. Olsen, H. Ozaki, P. Pakhlov, G. Pakhlova, H. Palka, H. Park, K. S. Park, L. S. Peak, L. E. Piilonen, Y. Sakai, O. Schneider, J. Schümann, R. Seidl, K. Senyo, M. E. Sevior, M. Shapkin, H. Shibuya, J. G. Shiu, B. Shwartz, J. B. Singh, A. Sokolov, A. Somov, M. Starič, T. Sumiyoshi, F. Takasaki, M. Tanaka, G. N. Taylor, Y. Teramoto, I. Tikhomirov, S. Uehara, Y. Unno, S. Uno, Y. Usov, G. Varner, K. E. Varvell, K. Vervink, S. Villa, A. Vinokurova, C. C. Wang, C. H. Wang, X. L. Wang, Y. Watanabe, E. Won, B. D. Yabsley, A. Yamaguchi, Y. Yamashita, C. C. Zhang, Z. P. Zhang, V. Zhilich, V. Zhulanov, A. Zupanc

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

461 Scopus citations

Sort by

Measurement of the e+e-→π+π-J/ψ cross section via initial-state radiation at Belle

Fingerprint

Engineering

Keyphrases