Measurement of branching fractions for B → ππ, Kπ and KK decays

K. Abe, K. Abe, I. Adachi, B. S. Ahn, H. Aihara, M. Akatsu, G. Alimonti, Y. Asano, T. Aso, V. Aulchenko, T. Aushev, A. M. Bakich, W. Bartel, S. Behari, P. K. Behera, D. Beiline, A. Bondar, A. Bozek, T. E. Browder, B. C.K. CaseyP. Chang, Y. Chao, K. F. Chen, B. G. Cheon, S. K. Choi, Y. Choi, S. Eidelman, Y. Enari, R. Enomoto, F. Fang, H. Fujii, M. Fukushima, A. Garmash, A. Gordon, K. Gotow, R. Guo, J. Haba, H. Hamasaki, K. Hanagaki, F. Handa, K. Hara, T. Hara, N. C. Hastings, H. Hayashii, M. Hazumi, E. M. Heenan, I. Higuchi, T. Higuchi, H. Hirano, T. Hojo, Y. Hoshi, W. S. Hou, S. C. Hsu, H. C. Huang, Y. Igarashi, T. Iijima, H. Ikeda, K. Inami, A. Ishikawa, H. Ishino, R. Itoh, G. Iwai, H. Iwasaki, Y. Iwasaki, D. J. Jackson, P. Jalocha, H. K. Jang, M. Jones, H. Kakuno, J. Kaneko, J. H. Kang, J. S. Kang, N. Katayama, H. Kawai, H. Kawai, T. Kawasaki, H. Kichimi, D. W. Kim, H. Kim, H. J. Kim, H. Kim, S. K. Kim, K. Kinoshita, S. Kobayashi, P. Krokovny, R. Kulasiri, S. Kumar, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, J. S. Lange, M. H. Lee, S. H. Lee, D. Liventsev, R. S. Lu, D. Marlow, T. Matsubara, S. Matsumoto, T. Matsumoto, Y. Mikami, K. Miyabayashi, H. Miyake, H. Miyata, G. R. Moloney, S. Mori, T. Mori, A. Murakami, T. Nagamine, Y. Nagasaka, T. Nakadaira, E. Nakano, M. Nakao, J. W. Nam, S. Narita, S. Nishida, O. Nitoh, S. Noguchi, T. Nozaki, S. Ogawa, T. Ohshima, T. Okabe, S. Okuno, S. L. Olsen, H. Ozaki, P. Pakhlov, H. Palka, C. S. Park, C. W. Park, H. Park, L. S. Peak, M. Peters, L. E. Piilonen, J. L. Rodriguez, N. Root, M. Rozanska, K. Rybicki, J. Ryuko, H. Sagawa, Y. Sakai, H. Sakamoto, M. Satapathy, A. Satpathy, S. Schrenk, S. Semenov, K. Senyo, M. E. Sevior, H. Shibuya, B. Shwartz, V. Sidorov, J. B. Singh, S. Stanič, A. Sugi, A. Sugiyama, K. Sumisawa, T. Sumiyoshi, J. I. Suzuki, K. Suzuki, S. Suzuki, S. Y. Suzuki, S. K. Swain, H. Tajima, T. Takahashi, F. Takasaki, M. Takita, K. Tamai, N. Tamura, J. Tanaka, M. Tanaka, G. N. Taylor, Y. Teramoto, M. Tomoto, T. Tomura, S. N. Tovey, K. Trabelsi, T. Tsuboyama, T. Tsukamoto, S. Uehara, K. Ueno, Y. Unno, S. Uno, Y. Ushiroda, Y. Usov, S. E. Vahsen, G. Varner, K. E. Varvell, C. C. Wang, C. H. Wang, J. G. Wang, M. Z. Wang, Y. Watanabe, E. Won, B. D. Yabsley, Y. Yamada, M. Yamaga, A. Yamaguchi, H. Yamamoto, Y. Yamashita, M. Yamauchi, S. Yanaka, M. Yokoyama, Y. Yusa, H. Yuta, C. C. Zhang, J. Zhang, H. W. Zhao, Y. Zheng, V. Zhilich, D. ŽontarShow 187 othersShow less