Measurement of branching fractions and polarization in B → φK(*) decays

K. F. Chen, A. Bozek, K. Abe, T. Abe, I. Adachi, H. Aihara, M. Akatsu, Y. Asano, T. Aso, A. M. Bakich, Y. Ban, E. Banas, A. Bay, P. K. Behera, I. Bizjak, A. Bondar, M. Bračko, J. Brodzicka, T. E. Browder, B. C.K. CaseyM. C. Chang, P. Chang, Y. Chao, B. G. Cheon, R. Chistov, S. K. Choi, Y. Choi, Y. K. Choi, M. Danilov, M. Dash, L. Y. Dong, A. Drutskoy, S. Eidelman, V. Eiges, Y. Enari, C. Fukunaga, N. Gabyshev, A. Garmash, T. Gershon, B. Golob, R. Guo, J. Haba, C. Hagner, F. Handa, H. Hayashii, M. Hazumi, T. Higuchi, L. Hinz, T. Hokuue, Y. Hoshi, W. S. Hou, Y. B. Hsiung, H. C. Huang, Y. Igarashi, T. Iijima, K. Inami, A. Ishikawa, H. Ishino, R. Itoh, H. Iwasaki, Y. Iwasaki, H. K. Jang, M. Jones, J. H. Kang, J. S. Kang, N. Katayama, H. Kawai, T. Kawasaki, H. Kichimi, D. W. Kim, Hyunwoo Kim, J. H. Kim, S. K. Kim, K. Kinoshita, P. Koppenburg, S. Korpar, P. Krokovny, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, J. S. Lange, S. H. Lee, T. Lesiak, J. Li, A. Limosani, S. W. Lin, J. MacNaughton, F. Mandl, D. Marlow, H. Matsumoto, T. Matsumoto, A. Matyja, W. Mitaroff, H. Miyake, H. Miyata, D. Mohapatra, T. Mori, T. Nagamine, T. Nakadaira, E. Nakano, M. Nakao, J. W. Nam, Z. Natkaniec, S. Nishida, O. Nitoh, T. Nozaki, S. Ogawa, T. Ohshima, T. Okabe, S. Okuno, S. L. Olsen, W. Ostrowicz, H. Ozaki, H. Palka, C. W. Park, H. Park, K. S. Park, N. Parslow, L. S. Peak, M. Peters, L. E. Piilonen, N. Root, M. Rozanska, H. Sagawa, S. Saitoh, Y. Sakai, T. R. Sarangi, M. Satapathy, A. Satpathy, O. Schneider, J. Schümann, A. J. Schwartz, S. Semenov, K. Senyo, M. E. Sevior, V. Sidorov, J. B. Singh, S. Stanič, M. Starič, A. Sugi, K. Sumisawa, T. Sumiyoshi, S. Suzuki, T. Takahashi, F. Takasaki, K. Tamai, N. Tamura, M. Tanaka, Y. Teramoto, T. Tomura, T. Tsuboyama, T. Tsukamoto, K. Ueno, Y. Unno, S. Uno, Y. Ushiroda, G. Varner, K. E. Varvell, C. C. Wang, C. H. Wang, J. G. Wang, M. Z. Wang, M. Watanabe, Y. Watanabe, E. Won, B. D. Yabsley, Y. Yamada, A. Yamaguchi, Y. Yamashita, M. Yamauchi, H. Yanai, P. Yeh, M. Yokoyama, Y. Yusa, C. C. Zhang, J. Zhang, Z. P. Zhang, Y. Zheng, V. Zhilich, D. ŽontarShow 159 othersShow less