Characterizing and modeling the noise and complex impedance of feedhorn-coupled TES polarimeters

J. W. Appel, J. E. Austermann, J. A. Beall, D. Becker, B. A. Benson, L. E. Bleem, J. Britton, C. L. Chang, J. E. Carlstrom, H. M. Cho, A. T. Crites, T. Essinger-Hileman, W. Everett, N. W. Halverson, J. W. Henning, G. C. Hilton, K. D. Irwin, J. McMahon, J. Mehl, S. S. MeyerM. D. Niemack, L. P. Parker, S. M. Simont, S. T. Staggs, C. Visnjic, K. W. Yoon, Y. ZhaoShow 7 othersShow less