Absolute Branching Fraction Measurements of Exclusive D0 Semileptonic Decays

T. E. Coan, Y. S. Gao, F. Liu, M. Artuso, C. Boulahouache, S. Blusk, J. Butt, E. Dambasuren, O. Dorjkhaidav, J. Li, N. Menaa, R. Mountain, R. Nandakumar, R. Redjimi, R. Sia, T. Skwarnicki, S. Stone, J. C. Wang, K. Zhang, S. E. CsornaG. Bonvicini, D. Cinabro, M. Dubrovin, R. A. Briere, G. P. Chen, J. Chen, T. Ferguson, G. Tatishvili, H. Vogel, M. E. Watkins, J. L. Rosner, N. E. Adam, J. P. Alexander, K. Berkelman, D. G. Cassel, V. Crede, J. E. Duboscq, K. M. Ecklund, R. Ehrlich, L. Fields, L. Gibbons, B. Gittelman, R. Gray, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, D. Hertz, L. Hsu, C. D. Jones, J. Kandaswamy, D. L. Kreinick, V. E. Kuznetsov, H. Mahlke-Krüger, T. O. Meyer, P. U.E. Onyisi, J. R. Patterson, D. Peterson, J. Pivarski, E. A. Phillips, D. Riley, A. Ryd, A. J. Sadoff, H. Schwarthoff, M. R. Shepherd, S. Stroiney, W. M. Sun, D. Urner, T. Wilksen, M. Weinberger, S. B. Athar, P. Avery, L. Breva-Newell, R. Patel, V. Potlia, H. Stoeck, J. Yelton, P. Rubin, C. Cawlfield, B. I. Eisenstein, G. D. Gollin, I. Karliner, D. Kim, N. Lowrey, P. Naik, C. Sedlack, M. Selen, J. Williams, J. Wiss, K. W. Edwards, D. Besson, T. K. Pedlar, D. Cronin-Hennessy, K. Y. Gao, D. T. Gong, Y. Kubota, T. Klein, B. W. Lang, S. Z. Li, R. Poling

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

47 Scopus citations

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Absolute Branching Fraction Measurements of Exclusive D0 Semileptonic Decays'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Mathematics